電介質(zhì)測試夾具
性能特點
頻率范圍:DC-120MHz
DUT尺寸:10mm-56mm
DUT厚度:≤10mm
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測試夾具示意圖
1.
千分尺小旋鈕:不可用于測試被測材料的厚度,僅用于記錄控制屏蔽電極A 移動的位置
2. 屏蔽電極A:有兩種屏蔽電極A1 和A2,屏蔽電極外殼接測試儀器GND,中心電極接測試儀器的Hcur 和Hpot 端口
3. 非屏蔽電極B:接測試儀器的 Lcur 和Lpot 端口
4. 電極A 壓力彈簧:垂直放置時抵消屏蔽電極A 的重力,使電極 A 和B 能順利分開
5. 三個控制電極B 的螺絲孔:用于調(diào)整非屏蔽電極B 和屏蔽電極A 之間的平行度
6. 電極A 固定螺絲:逆時針旋轉(zhuǎn)可以更換屏蔽電極A(A1 或者A2)。
第2章 電介質(zhì)材料的測試范圍
第3章測試原理簡介
3.1測試原理如下圖
3.2介電常數(shù)結(jié)算
第4章 測試步驟
4.1檢查夾具是否正常
1) 將夾具垂直放置并連接電橋
2) 將電橋設(shè)置為測試頻率 100kHz,測試電平 1V,測試量程自動,測試參數(shù)改為CP-D
3) 通過旋轉(zhuǎn)千分尺小按鈕,上下移動屏蔽電極A,注意不要讓電極A 和電極B 接觸
4) 當(dāng)電極 A 遠(yuǎn)離電極B,電橋測試電容值變小,當(dāng)電極A 靠近電極B,電橋測試電容值變大,變化范圍應(yīng)該在1pF~100pF 之內(nèi)
4.2調(diào)整電極 A 和電極 B 之間的平行度
1) 將夾具水平放置并連接電橋
2) 將電橋設(shè)置為測試頻率 100kHz,測試電平 1V,測試量程 1kΩ,測試參數(shù)改為CP-D
3) 旋轉(zhuǎn)千分尺小旋鈕,將千分尺實際刻度和電子刻度調(diào)零
4) 旋轉(zhuǎn)千分尺小旋鈕,將千分尺旋轉(zhuǎn)至微負(fù),如果在微負(fù)前電極 A 和電極B 已經(jīng)碰在一起,需要先將控制電極 B 的三個螺絲全部逆時針旋轉(zhuǎn),使電極 B 遠(yuǎn)離電極A,然后繼續(xù)調(diào)整千分尺
5) 慢慢輪流旋轉(zhuǎn)三個螺絲,使電極 B 慢慢靠近電極A,并使電極 B 和電極A 貼合,用肉眼觀察兩電極之間沒有明顯的不平和縫隙
6) 將千分尺旋轉(zhuǎn)至 0.01mm
7) 慢慢輪流旋轉(zhuǎn)三個螺絲,使電極B 慢慢靠近電極A,并同時觀察電橋的測試電容值, 如果電容出現(xiàn)負(fù)數(shù)、nF、uF 說明電極A 和電極B 碰到了一起。
8) 根據(jù)不同的屏蔽電極種類,慢慢調(diào)整三個螺絲使電橋測試值符合下表,即完成電極的平行度調(diào)整
9) 更換電極或者每隔一定時間后就必須校準(zhǔn)電極 A 和電極B 之間的平行度,以保證測試精度,特別是對于厚度小于 1mm 的材料測試。
4.3 開短路清零
4.3.1 開路清零
1) 將開短路附件如下圖安裝,并旋轉(zhuǎn)千分尺如下圖位置
2) 在電橋上進行開路清零
4.3.2 短路清零
1) 將開短路附件如下圖安裝,并旋轉(zhuǎn)千分尺如下圖位置
2) 在電橋上進行短路清零
4.4 開始測試
1) 測試夾具上的千分尺不可用于測試材料的厚度,請自行用其他工具測量被測件的平均厚度
2) 被測件必須為圓形,將被測件如下圖放置于夾具中心,不能超出夾具外。旋轉(zhuǎn)千分尺小旋鈕將被測件夾緊。
3) 按測試要求設(shè)置電橋的測試參數(shù),如果測試頻率≥1MHz,需要設(shè)置電橋測量設(shè)置里面的用戶校準(zhǔn)為 1m。讀取電容值Cp
4) 按公式 3.1 計算介電常數(shù)
當(dāng)使用屏蔽電極 A1 時
第5章 測試誤差說明